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菲希爾X熒光射線測厚儀XDLM237信息
更新時間：2025-08-22 點擊次數：115次
X熒光射線測厚儀XDLM237核心功能：
適用于薄涂層的無損厚度測量和分析，包括低濃度涂層。
可對批量生產的零件和印刷電路板進行自動測量。
能無標準地分析涂層系統以及固體和液體樣品（使用費舍爾基本參數法）。
可同時檢測從氯（17）到鈾（92）范圍內的多達 24 種元素。
X熒光射線測厚儀XDLM237性能優(yōu)勢：
采用比例計數管實現高計數率，保證測量精確性。
孔徑和初級濾波器可電動更換，能為每次測量創(chuàng)造最佳條件。
具有出色的長期穩(wěn)定性，顯著減少校準工作。
配備快速、可編程的 X/Y 載物臺，適合自動樣品測量
應用領域
量產零件的測量
檢測具有小測量點的薄涂層
電子和半導體行業(yè)中功能涂層的分析
印刷電路板等的自動測量
