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菲希爾MP0測厚儀校準信息
更新時間:2025-10-31 點擊次數:35次
菲希爾(FISCHER)DUALSCOPE® MP0 測厚儀是一款集磁感應(用于磁性基材上的非磁性涂層)和電渦流(用于非磁性金屬基材上的非導電涂層)兩種測量原理于一體的便攜式涂層測厚儀。為確保測量精度,需定期進行校準(包括正常化和校正)。以下是詳細校準步驟和注意事項:
一、校準前準備
基材(底材):未鍍/未涂的原始材料,材質和形狀應與被測工件一致。
標準片:已知厚度的標準膜片(如72.4 μm),通常儀器附帶一片,建議使用與被測涂層厚度相近的標準片。
環境要求:避免強磁場、高溫、潮濕環境。
二、校準流程(以鐵基材為例)
1. 正常化(歸零)
目的:消除基材本身對測量的干擾。
開機后,按屏幕對應“校正"位置的按鈕。
選擇“正常化"或系統自動進入。
將探頭垂直放置在干凈的鐵基材上,測量 3–5 次(每次聽到“滴"聲后提起)。
按 OK 確認,屏幕提示“正常完成成功"后,再按一次 OK 完成歸零。
2. 校正(使用標準片)
目的:將儀器讀數校準至標準片標稱值。
返回校正界面,再次測量同一鐵基材 3–5 次(不可跳過)。
將標準片放在該基材上,測量 3–5 次。
按 “設置" 鍵,使用 ↑↓ 鍵將顯示值調整為標準片標稱厚度(如 72.4 μm)。
按 OK 確認。
若有第二片標準片(建議按從薄到厚順序),重復上述步驟;若無,直接按 OK 跳過。
屏幕提示“校準成功完成"。
注意:鋁基材(非鐵基材)校準步驟相同,但需使用非磁性金屬基材(如鋁板)和對應的標準片。


