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泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度儀參數信息
更新時間：2025-11-11 點擊次數：108次
Surtronic S116 支持多達 30 種粗糙度參數（包括 Ra、Rz、Rq、Rsk、Rku 等），兼容 ISO 4287/4288、ASME B46.1 等國際規范，適用于從研發實驗室到生產一線的各類應用場景。其高分辨率傳感器具備 0.001 μm 的垂直分辨力，配合長達 17.5 mm 的測量行程，可精準捕捉復雜輪廓細節，尤其適合高光潔度或高粗糙度表面的全面評估。
該儀器配備 5 英寸高清彩色觸摸屏，搭載直觀的圖形化操作系統，支持實時輪廓顯示、參數對比及趨勢分析。用戶可通過 Wi-Fi 或 USB 快速導出數據至 PC 或云端平臺，無縫對接質量管理軟件。內置 8 GB 存儲空間，可容納數萬組測量記錄，并支持 PDF 報告一鍵生成，極大提升工作效率。
