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elektrophysik測厚儀MiniTest740
                   
為了質量控制和檢驗的靈活性,MiniTest740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。SIDSP探頭具有*的抗干擾性、SIDSP-測量信號高穩定性、預設選項節省您的時間和金錢、SIDSP探頭對溫度變化不敏感、SIDSP探頭適應性強、SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償。
elektrophysik測厚儀MiniTest740主機參數
  | MINITEST 720  | MINITEST 730  | MINITEST 740  | 
探頭類型  | 內置  | 外置  | 內置外置可換  | 
數據記憶組數  | 10  | 10  | 100  | 
存儲數據量  | zui多10,000個  | zui多10,000個  | zui多100,000個  | 
統計值  | 讀值個數,zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)  | ||
校準程序符合標準和規范  | ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準  | ||
校準模式  | 出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節補償值  | ||
極限值監控  | 聲、光報警提示超過極限  | ||
測量單位  | um,mm,cm;mils,inch,thou  | ||
操作溫度  | -10℃-60℃  | ||
存放溫度  | -20℃-70℃  | ||
數據接口  | IrDA 1.0(紅外接口)  | ||
電源  | 2節AA電池  | ||
標準  | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840  | ||
體積  | 157mm x 75.5mm x 49mm  | ||
重量  | 約175g  | 約210g  | 約175g(內置)/230g(外置)  | 
MiniTest740主特點
--創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的性
-測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。
         

